PCE-2000 光色電測試系統(tǒng)
以HAAS-2000高精度快速光譜輻射計(jì)為核心的實(shí)驗(yàn)室級解決方案
典型應(yīng)用場景
PCE-2000光色電測試系統(tǒng)主要用于測試激光投影、投影儀的相對光譜功率分布、色品坐標(biāo)、主波長、峰值波長、光譜純度、色溫、顯色指數(shù)、光通量、輻射功率等參數(shù)。
主要特點(diǎn)
一、低雜散光
通過改良設(shè)計(jì)后高度匹配度的高精度光柵和科學(xué)級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術(shù)和雜散光校正技術(shù)，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
二、寬線性動態(tài)測量范圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學(xué)級陣列探測器具有更寬的線性動態(tài)范圍，且光學(xué)匹配改造設(shè)計(jì)后，儀器的動態(tài)范圍進(jìn)一步拓寬。此外，SBCT技術(shù)也大輻提高了HAAS-2000的線性動態(tài)范圍。
三、毫秒級測試速度
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩(wěn)態(tài)特性，而且可以測量它們瞬態(tài)光學(xué)特性，完全符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。在儀器的靈敏度范圍內(nèi)，無論被測光的瞬態(tài)脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發(fā)功能實(shí)現(xiàn)快速的全光譜測量。HAAS-2000采用科學(xué)級陣列探測器代替機(jī)械掃描系統(tǒng)，可以在極短的測量時(shí)間內(nèi)（毫秒級）完整完成精確測量整個(gè)光譜范圍。
四、科學(xué)級測量精度
HAAS-2000專為高精度應(yīng)用場合設(shè)計(jì)，通過對世界頂級商用科學(xué)級制冷型陣列探測器和精密光柵進(jìn)行改良設(shè)計(jì)，使其更加匹配，再配以精密的光學(xué)系統(tǒng)和電子線路，同時(shí)采用多項(xiàng)專利技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態(tài)范圍，從而實(shí)現(xiàn)精確測量的目的。
五、高重復(fù)性和穩(wěn)定性
儀器沒有機(jī)械運(yùn)動的掃描機(jī)構(gòu)，唯一會產(chǎn)生隨環(huán)境變化的溫度因素也被恒溫制冷技術(shù)控制到了±0.05℃的水平，測量的重復(fù)性和穩(wěn)定性高。
主要技術(shù)指標(biāo)
遠(yuǎn)方公眾號
